Test scheduling Algorithms for delay-insensitive chip area interconnects based on cone partitioning
Test scheduling Algorithms for delay-insensitive chip area interconnects based on cone partitioning
复制标题
基于锥划分的时延不敏感芯片区域互连测试调度算法
DOI：
--
复制
发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
岩垣剛
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Pongsakorn U-chupala;Kohei Ichikawa;Hirotake Abe;Susumu Date and Shinji Shimojo;岩垣剛
