基于空洞卷积和注意力机制的深度伪造检测

基于空洞卷积和注意力机制的深度伪造检测
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DOI:
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发表时间:
2022
期刊:
现代电子技术
影响因子:
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通讯作者:
董晶
董晶
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
张时润;彭勃;王伟;董晶

文献摘要

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