T.Arai: "Scanning Auger Electron Microscopy Evaluation and Composition Control of Cantilevers for Ultrahigh Vacuum Atomic Force Microscopy" Japan Jounal of Applied Physics. 36. 3855-3859 (1997)
T.Arai: "Scanning Auger Electron Microscopy Evaluation and Composition Control of Cantilevers for Ultrahigh Vacuum Atomic Force Microscopy" Japan Jounal of Applied Physics. 36. 3855-3859 (1997)
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T.Arai：“超高真空原子力显微镜的扫描俄歇电子显微镜评估和悬臂成分控制”日本应用物理学杂志。
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