Application of X-ray photoelectron spectroscopy valence bands in studying ceramic surfaces and interfaces
Application of X-ray photoelectron spectroscopy valence bands in studying ceramic surfaces and interfaces
复制标题
X射线光电子能谱价带在陶瓷表面和界面研究中的应用
DOI：
10.1016/0040-6090(93)90663-a
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发表时间：
1993
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
D. Chatterjee
中科院分区：
文献类型：
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作者：
D. Majumdar;D. Chatterjee
