Layer-by-layer Dielectric Breakdown of Hexagonal Boron Nitride Film in Conductive AFM Measurement
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导电 AFM 测量中六方氮化硼薄膜的逐层介电击穿
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
& K. Nagashio
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Hattori;T. Taniguchi;K. Watanabe;& K. Nagashio
