Measurement of Behavior of Charge Carriers and Investigation into Charge-Trapping Mechanisms in High-Purity type IIa Diamond Single
Measurement of Behavior of Charge Carriers and Investigation into Charge-Trapping Mechanisms in High-Purity type IIa Diamond Single
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高纯度 IIa 型金刚石单晶中电荷载流子行为的测量和电荷捕获机制的研究
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
J.H.Kaneko et al.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M.Yoshikawa;K.Sedo;Y.Kubota;T.Kobayashi;et al.;J.H.Kaneko et al.
