J-PARC muon g-2/EDM 実験 : シリコンストリップ検出器用読出しASICの性能評価
J-PARC muon g-2/EDM 実験 : シリコンストリップ検出器用読出しASICの性能評価
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J-PARC muon g-2/EDM实验：硅条探测器读出ASIC的性能评估
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
岸下徹一_
中科院分区：
文献类型：
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作者：
市川修平;船戸充;川上養一;岸下徹一_
