Ikuta T: "Aberration free imaging technique based on focal depth extension"Proc. of Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '01. 119-122 (2001)
Ikuta T: "Aberration free imaging technique based on focal depth extension"Proc. of Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '01. 119-122 (2001)
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Ikuta T：“基于焦深扩展的无像差成像技术”Proc。
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