Interpreting interfacial structure in cross-sectional STM images of III–V semiconductor heterostructures
Interpreting interfacial structure in cross-sectional STM images of III–V semiconductor heterostructures
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解释 III-V 族半导体异质结构横截面 STM 图像中的界面结构
DOI：
10.1016/s0039-6028(00)00732-9
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发表时间：
2000
期刊：
影响因子：
1.9
通讯作者：
L. Whitman
中科院分区：
文献类型：
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作者：
B. Nosho;W. Barvosa;M. Yang;B. R. Bennett;L. Whitman
