Trace element mapping using hard X-ray nanobeam focused by a Kirkpatrick Baez mirror system
Trace element mapping using hard X-ray nanobeam focused by a Kirkpatrick Baez mirror system
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使用由 Kirkpatrick Baez 镜系统聚焦的硬 X 射线纳米束进行微量元素映射
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
松山智至
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Deguchi;K. Kawashima;松山智至
