BTI mitigation by anti-ageing software patterns

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DOI:
10.1016/j.microrel.2017.10.009
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发表时间:
2017-12
期刊:
Microelectron. Reliab.
影响因子:
--
通讯作者:
H. Abbas;Basel Halak;Mark Zwolinski
H. Abbas;Basel Halak;Mark Zwolinski
中科院分区:
其他
文献类型:
--
作者:
H. Abbas;Basel Halak;Mark Zwolinski

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