Mikio Takai: "Microanalysis by Foucused MeV Helium Ion Beam" Japan J. Appl. Phys.i6. L550-L553 (1987)
Mikio Takai: "Microanalysis by Foucused MeV Helium Ion Beam" Japan J. Appl. Phys.i6. L550-L553 (1987)
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Mikio Takai：“通过聚焦 MeV 氦离子束进行微量分析”Japan J. Appl。
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