Takahiro Namazu, Yoshitada Isono: "High-Cycle Fatigue Damage Evaluation for Micro-Nanoscale Single Crystal Silicon under Bending and Tensile Stressing"Proc.of the 17th IEEE International Conference on MEMS 2004. 149-152 (2004)
Takahiro Namazu, Yoshitada Isono: "High-Cycle Fatigue Damage Evaluation for Micro-Nanoscale Single Crystal Silicon under Bending and Tensile Stressing"Proc.of the 17th IEEE International Conference on MEMS 2004. 149-152 (2004)
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Takahiro Namazu、Yoshitada Isono：“弯曲和拉伸应力下微纳米级单晶硅的高周疲劳损伤评估”Proc.of the 17th IEEE International Conference on MEMS 2004. 149-152 (2004)
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