X-ray diffraction studies of Mg2Si and Ag-doped Mg2Si under pressure
X-ray diffraction studies of Mg2Si and Ag-doped Mg2Si under pressure
复制标题
Mg2Si和Ag掺杂Mg2Si在压力下的X射线衍射研究
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K. Takarabe
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Mori;Y. Kaihara;K. Takarabe
