PLE分光によるGaN/AIN単一量子ドット中のエネルギー緩和過程の観測
PLE分光によるGaN/AIN単一量子ドット中のエネルギー緩和過程の観測
复制标题
利用 PLE 光谱观察 GaN/AlN 单量子点的能量弛豫过程
DOI：
--
复制
发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
荒川泰彦
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
P.Podemski;M.Holmesl;加古敏;有田宗貴;荒川泰彦
