LEED and Auger electron observations of the SiC(0001) surface
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DOI：
10.1016/0039-6028(75)90419-7
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发表时间：
1975-03
期刊：
影响因子：
1.9
通讯作者：
A. V. Bommel;J. Crombeen;A. V. Tooren
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A. V. Bommel;J. Crombeen;A. V. Tooren
