Thickness dependent electronic structure for SrRuO3 ultrathin films studied by in-situ photoemission spectroscopy
Thickness dependent electronic structure for SrRuO3 ultrathin films studied by in-situ photoemission spectroscopy
复制标题
原位光电子能谱研究 SrRuO3 超薄膜的厚度相关电子结构
DOI：
--
复制
发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
M.Oshima et al.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
D.Toyota;H.Kumigashira;M.Oshima et al.
DOI：
--
发表时间：
1984
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
高エネルギー物理学研究所
通讯作者：
高エネルギー物理学研究所