Development ofcryogenic readout electronics using Fully depleted silicon-on-insulator CMOS process for future space borne far-infrared image sensors

Development ofcryogenic readout electronics using Fully depleted silicon-on-insulator CMOS process for future space borne far-infrared image sensors
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使用全耗尽绝缘体上硅 CMOS 工艺开发低温读出电子器件,用于未来星载远红外图像传感器

DOI:
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发表时间:
2009
期刊:
AIP Conference Proceedings 1185
影响因子:
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通讯作者:
M.Ohno.
M.Ohno.
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
H.Nagata;T.Wada;H.Ikeda;Y.Arai;M.Ohno.

文献摘要

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