低温電子顕微鏡によるらせん複合体の高分解能構造解析
低温電子顕微鏡によるらせん複合体の高分解能構造解析
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使用冷冻电子显微镜对螺旋复合物进行高分辨率结构分析
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
藤井高志
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Fujii;T.;et a1;渕上壮太郎;粕谷有造;藤井高志
