Temperature-dependence of steady-state characteristics of SCR-type ESD protection circuits
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DOI：
10.1016/s0038-1101(00)00153-2
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发表时间：
2000-12
影响因子：
1.7
通讯作者：
S. Jang;J. Lin
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Jang;J. Lin
