K.Suzuki,N.Maeda and S.Takeuchi: "High resolution electron microscopy of dissociated dislocations in silicon with a normal-incident electron beam" Philosophical Magazine, A. 73. 431-441 (1996)
K.Suzuki,N.Maeda and S.Takeuchi: "High resolution electron microscopy of dissociated dislocations in silicon with a normal-incident electron beam" Philosophical Magazine, A. 73. 431-441 (1996)
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K.Suzuki、N.Maeda 和 S.Takeuchi：“用法向入射电子束观察硅中解离位错的高分辨率电子显微镜”哲学杂志，A. 73. 431-441 (1996)
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