新型スピン分解ARPES装置によるBi系トポロジカル絶縁体薄膜の電子状態の研究
新型スピン分解ARPES装置によるBi系トポロジカル絶縁体薄膜の電子状態の研究
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利用新型自旋分辨ARPES装置研究铋基拓扑绝缘体薄膜的电子态
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
田中祐輔
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Sugawara;T. Sato;Y. Tanaka;S. Souma;and T. Takahashi;稲葉肇;Hajime Inaba;田中祐輔
