K.Sawara: "Atomic Scale Flatness of Chemically Cleaned Silicon Surfaces Studied by Infrared ATR Spectroscopy" Jpn.J.Appl.Phys.31. L931-L933 (1992)
K.Sawara: "Atomic Scale Flatness of Chemically Cleaned Silicon Surfaces Studied by Infrared ATR Spectroscopy" Jpn.J.Appl.Phys.31. L931-L933 (1992)
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K.Sawara:“通过红外 ATR 光谱研究化学清洁硅表面的原子级平坦度”Jpn.J.Appl.Phys.31。
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