半導体ナノワイヤFETにおけるポテンシャルゆらぎに起因する電流ノイズの数値シミュレーション
半導体ナノワイヤFETにおけるポテンシャルゆらぎに起因する電流ノイズの数値シミュレーション
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半导体纳米线FET电位波动引起的电流噪声的数值模拟
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
古林優希， 小川真人，相馬聡文
中科院分区：
文献类型：
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作者：
船谷宜嗣， 山本貴博;小川真人，相馬聡文;上山真之， 小川真人，相馬聡文;相馬聡文，上山真之， 小川真人;益原貴志， Amir Mehdipour，相馬聡文，小川真人;藤川広樹， 相馬聡文，小川真人;永井寛人， 小川真人，相馬聡文;古林優希， 小川真人，相馬聡文
