Technologies and reliability of modern embedded flash cells
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复制标题
现代嵌入式闪存单元的技术和可靠性
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
U. Paschen
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A. Sikora;F. Pesl;W. Unger;U. Paschen
