Surface structure analysis with total-refrection high-energy positron diffraction (TRHEPD)

Surface structure analysis with total-refrection high-energy positron diffraction (TRHEPD)
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利用全反射高能正电子衍射 (TRHEPD) 进行表面结构分析

DOI:
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发表时间:
2015
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
and A. Ichimiya
and A. Ichimiya
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
T. Hyodo;Y. Fukaya;I. Mochizuki;K. Wada;M. Maekawa;A. Kawasuso;T. Shidara;and A. Ichimiya

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