The defect technique for partially absorbing and reflecting boundaries: Application to the Ornstein-Uhlenbeck process
The defect technique for partially absorbing and reflecting boundaries: Application to the Ornstein-Uhlenbeck process
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部分吸收和反射边界的缺陷技术：在 Ornstein-Uhlenbeck 过程中的应用
DOI：
10.1142/s0217979222400112
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发表时间：
2022
影响因子：
1.7
通讯作者：
Kay T
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kay T
