Permeability Measurements of Thin Film Using a Flexible Microstrip Line-Type Probe Up To 40 GHz
Permeability Measurements of Thin Film Using a Flexible Microstrip Line-Type Probe Up To 40 GHz
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使用高达 40 GHz 的柔性微带线型探头测量薄膜的磁导率
DOI：
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发表时间：
2017
影响因子：
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通讯作者：
and Y. Shimada
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Yabukami;K. Kusunoki;H. Uetake;H. Yamada;T. Ozawa;R. Utsumi;T. Moriizumi;and Y. Shimada
