Surface structure analysis of Si(111)√3 × √3-Bi by X-ray diffraction — Approach to the solution of the phase problem
Surface structure analysis of Si(111)√3 × √3-Bi by X-ray diffraction — Approach to the solution of the phase problem
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X射线衍射分析Si(111)√3 × √3-Bi的表面结构——相位问题的求解方法
DOI：
10.1016/s0039-6028(87)81179-2
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发表时间：
1987
期刊：
影响因子：
1.9
通讯作者：
S. Kikuta
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Toshio Takahashi;S. Nakatani;T. Ishikawa;S. Kikuta
