Circuit reliability estimation based on an iterative PTM model with hybrid coding-猫眼课题宝

DOI：

10.1016/j.mejo.2016.03.013

发表时间：

2016-06

期刊：

Microelectron. J.

影响因子：

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通讯作者：

中科院分区：

其他

文献类型：

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作者：

Jie Xiao;William Lee;Jianhui Jiang;Xuhua Yang