FIB based fabrication of an operative Pt/HfO2/TiN device for resistive switching inside a transmission electron microscope.
FIB based fabrication of an operative Pt/HfO2/TiN device for resistive switching inside a transmission electron microscope.
复制标题
DOI：
10.1016/j.ultramic.2017.04.008
复制
发表时间：
2017-10
期刊：
影响因子：
2.2
通讯作者：
A. Zintler;U. Kunz;Y. Pivak;S. Sharath;S. Vogel;E. Hildebrandt;H. Kleebe;L. Alff;L. Molina‐Luna-L.-Mo
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
A. Zintler;U. Kunz;Y. Pivak;S. Sharath;S. Vogel;E. Hildebrandt;H. Kleebe;L. Alff;L. Molina‐Luna-L.-Mo
