Belle II実験シリコンストリップ崩壊点検出器を用いたビームバックグラウンドの研究
Belle II実験シリコンストリップ崩壊点検出器を用いたビームバックグラウンドの研究
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使用 Belle II 实验硅条塌陷点探测器进行光束背景研究
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
谷川輝
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Tanigawa;Belle-II SVD Collaboration;谷川輝;谷川輝;谷川輝;谷川輝;谷川輝
