A.Taguchi,T.Miyoshi,Y.Takaya,S.Takahashi,K.Saito: "3D micro-profile measurement using optical inverse scattering phase method."Annals of CIRP. 49/1. (2000)
A.Taguchi,T.Miyoshi,Y.Takaya,S.Takahashi,K.Saito: "3D micro-profile measurement using optical inverse scattering phase method."Annals of CIRP. 49/1. (2000)
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A.Taguchi、T.Miyoshi、Y.Takaya、S.Takahashi、K.Saito：“使用光学逆散射相位法进行 3D 微观轮廓测量。”CIRP 年鉴。
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