Beam test results of an SOI monolithic pixel sensor SOFIST for the ILC vertex detector
Beam test results of an SOI monolithic pixel sensor SOFIST for the ILC vertex detector
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用于 ILC 顶点检测器的 SOI 单片像素传感器 SOFIST 的光束测试结果
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Shun Ono
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Lu Xing;Li Shanghuo;Ginsburg Adam;Longmore Steven N.;Kruijssen J. M. Diederik;Walker Daniel L.;Feng Siyi;Zhang Qizhou;Battersby Cara;Pillai Thushara;Mills Elisabeth A. C.;Kauffmann Jens;Cheng Yu;Inutsuka Shu-ichiro;Shun Ono
