基于双肖特基接触GaN薄膜特性参数测试新方法

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DOI:
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发表时间:
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期刊:
半导体学报.
影响因子:
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通讯作者:
白云霞
白云霞
中科院分区:
其他
文献类型:
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作者:
罗谦;杨谟华;杜江锋;梅丁蕾;王良臣;白云霞

文献摘要

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