THEORY FOR THE ATOMIC FORCE MICROSCOPY OF DEFORMABLE SURFACES
THEORY FOR THE ATOMIC FORCE MICROSCOPY OF DEFORMABLE SURFACES
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DOI：
10.1103/physrevlett.63.876
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发表时间：
1989-08-21
影响因子：
8.6
通讯作者：
GUNTHERODT, HJ
中科院分区：
文献类型：
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作者：
TOMANEK, D;OVERNEY, G;GUNTHERODT, HJ
我们提出了一个理论的原子力显微镜（AFM）的变形表面，并将其应用到石墨与无嵌入原子。使用连续弹性理论的石墨层，从头计算得到的参数，我们定量确定在附近的一个尖锐的AFM针尖作为所施加的力的函数的局部扭曲。我们的计算表明，原子力显微镜应该是一个独特的工具，以确定当地的表面刚度和测量的愈合长度的石墨在附近的插入杂质或步骤。
We present a theory for the atomic force microscopy (AFM) of deformable surfaces and apply it to graphite with and without intercalated atoms. Using continuum elasticity theory for graphite layers, with parameters obtained from ab initio calculations, we determine quantitatively local distortions in the vicinity of a sharp AFM tip as a function of the applied force. Our calculations show that AFM should be a unique tool to determine local surface rigidity and to measure the healing length of graphite in the vicinity of intercalated impurities or steps.