Pbフリーはんだダイボンド部の冷熱衝撃サイクル試験における信頼性評価

Pbフリーはんだダイボンド部の冷熱衝撃サイクル試験における信頼性評価
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无铅焊料芯片接合件热冲击循环试验的可靠性评估

DOI:
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发表时间:
2011
期刊:
第17回エレクトロニクスにおけるマイクロ接合・実装技術シンポジウム論文集
影响因子:
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通讯作者:
藤本公三
藤本公三
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
西岡智志;藤本公三

文献摘要

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