半導体の基礎物性・格子欠陥特性の高精度理論予測と物質・材料探索への展開
半導体の基礎物性・格子欠陥特性の高精度理論予測と物質・材料探索への展開
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半导体基本物理性质和晶格缺陷特征的高精度理论预测及其在材料探索中的应用
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
熊谷 悠
中科院分区：
文献类型：
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作者：
大場史康;日沼洋陽;熊谷 悠
