ベ一タ線を用いたX線CCDの空乏層厚測定
ベ一タ線を用いたX線CCDの空乏層厚測定
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使用 β 辐射测量 X 射线 CCD 的耗尽层厚度
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
西岡 祐介
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Wada;Koji ; Tanaka;Hidekazu ; Okuzumi;Satoshi ; Kobayashi;Hiroshi ; Suyama;Toru ; Kimura;Hiroshi ; Yamamoto;Tetsuo;陶山徹;松田 和久;西岡 祐介
