過渡レンズ法を用いたGaN基板と薄膜における非輻射再結合過程の評価
過渡レンズ法を用いたGaN基板と薄膜における非輻射再結合過程の評価
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使用瞬态透镜法评估 GaN 衬底和薄膜中的非辐射复合过程
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
川上養一
中科院分区：
文献类型：
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作者：
塚本真大;石井良太;船戸充;川上養一
