H.Tomiye: "Scanning capacitance microscope study of a SiO_2/Si interface modified by charge injection" Appl.Phys.A 66. 431-434 (1998)
H.Tomiye: "Scanning capacitance microscope study of a SiO_2/Si interface modified by charge injection" Appl.Phys.A 66. 431-434 (1998)
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H.Tomiye：“通过电荷注入改性的 SiO_2/Si 界面的扫描电容显微镜研究”Appl.Phys.A 66. 431-434 (1998)
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