Nano-scale friction on a superconductor surface by scanning probe microscopy
Nano-scale friction on a superconductor surface by scanning probe microscopy
复制标题
通过扫描探针显微镜观察超导体表面的纳米级摩擦
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
白濱圭也
中科院分区：
文献类型：
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作者：
齋藤広大;林賢一;柴山義行;白濱圭也
