C.ーB.Lim,T.Iseki: "StrengthーPorosityーMicrostructure Relations in Porous ReactionーSintered SiC with Free Silicon Removed" J.Materials Science. 25. 4203-4210 (1990)

C.ーB.Lim,T.Iseki: "StrengthーPorosityーMicrostructure Relations in Porous ReactionーSintered SiC with Free Silicon Removed" J.Materials Science. 25. 4203-4210 (1990)
复制标题

C.-B.Lim、T.Iseki:“去除游离硅的多孔反应烧结 SiC 中的强度-孔隙率-微观结构关系”J.Materials Science 25. 4203-4210 (1990)

DOI:
--
复制
发表时间:
--
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
--
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:

文献摘要

相似文献