An x-ray fluorescence holographic study on a Bi2Te3Mn0.1 topological insulator
An x-ray fluorescence holographic study on a Bi2Te3Mn0.1 topological insulator
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Bi2Te3Mn0.1拓扑绝缘体的X射线荧光全息研究
DOI：
10.1088/1742-6596/502/1/012024
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
M Kitaura and M Sasaki
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
S. Hosokawa;N. Happo;K Hayashi;A Ohnishi;M Kitaura and M Sasaki
为了寻找Bi{sub 2}Te{sub 3}Mn{sub 0.1}拓扑绝缘体中Mn杂质的原子位点，进行了Mn Kα荧光X射线全息实验。中心 Mn 原子周围的重建原子图像显示出六方结构，其中局部晶格常数略大于原始 Bi{sub 2}Te{sub 3} 晶体。因此，Mn 杂质最可能的原子位置是 Bi 或 Te 原子的取代。与普通晶体不同，很难观察到更远的原子图像，这表明在这种功能晶体中，Mn 周围形成了扁平簇。
To search the atomic sites of Mn impurities in Bi{sub 2}Te{sub 3}Mn{sub 0.1} topological insulator, a Mn Kα fluorescence x-ray holography experiment was performed. The reconstructed atomic image around the central Mn atom reveals a hexagonal configuration, where the local lattice constant is slightly larger than the original Bi{sub 2}Te{sub 3} crystal. Thus, the most plausible atomic position of Mn impurities is the substitution with Bi or Te atom. The further-distant atomic images are hardly observed unlike usual crystals, indicating a formation of flat clusters around Mn in this functional crystal.
利用 X 射线荧光全息技术分析千层状 Mg-Zn-Y 合金的局部结构
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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作者：
K. Kimura;T. Nishioka;Y. Yamamoto;K. Hagihara;H. Izumo;N. Happo;S. Hosokawa;E. Abe;M. Suzuki;T. Matsushita;and K. Hayashi
通讯作者：
and K. Hayashi