Y.Tanaka, T.Kurokawa, H.Tsuda, M.Naganuma: "Profilometry using two-photon absorption of silicon avalanche photodiode (Invited Paper)"Proc.SPIE Advanced Materials and Devices for Sensing and Imaging. vol.4919. 102-109 (2002)
Y.Tanaka, T.Kurokawa, H.Tsuda, M.Naganuma: "Profilometry using two-photon absorption of silicon avalanche photodiode (Invited Paper)"Proc.SPIE Advanced Materials and Devices for Sensing and Imaging. vol.4919. 102-109 (2002)
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Y.Tanaka、T.Kurokawa、H.Tsuda、M.Naganuma：“利用硅雪崩光电二极管的双光子吸收进行轮廓测量（特邀论文）”Proc.SPIE 用于传感和成像的先进材料和器件。
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