上田一之: "電子励起脱離によるシリコン表面上の微量酸素の検出" 真空. 38巻3号. 418-420 (1995)
上田一之: "電子励起脱離によるシリコン表面上の微量酸素の検出" 真空. 38巻3号. 418-420 (1995)
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Kazuyuki Ueda：“通过电子激发解吸检测硅表面上的痕量氧”，真空，第 38 卷，第 3 期，418-420（1995 年）。
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