金属薄膜におけるき裂発生による電気特性変化を用いた疲労センサの検討
金属薄膜におけるき裂発生による電気特性変化を用いた疲労センサの検討
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利用金属薄膜中裂纹萌生引起的电性能变化研究疲劳传感器
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
高橋 勇統
中科院分区：
文献类型：
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作者：
佐々木 翼;白岩 隆行;Pornthep Chivavibul、榎 学;高橋 勇統
