Characterisation and Control of Defects in Semiconductors
Characterisation and Control of Defects in Semiconductors
复制标题
半导体缺陷的表征和控制
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Jun Han
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Qin;Xiaonuan Luo;Miao;Juan Song;D. Xia;Jun Han
