Fast, micrometer scale characterization of group-III nitrides with laboratory X-ray diffraction
Fast, micrometer scale characterization of group-III nitrides with laboratory X-ray diffraction
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通过实验室 X 射线衍射快速、微米级表征 III 族氮化物
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
J. Bläsing
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A. Krost;J. Bläsing
