Low Temperature X-ray Diffraction Study of ZnCr_2O_4 and Ni_<0.5>Zn_<0.5>Cr_2O_4
Low Temperature X-ray Diffraction Study of ZnCr_2O_4 and Ni_<0.5>Zn_<0.5>Cr_2O_4
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ZnCr_2O_4和Ni_<0.5>Zn_<0.5>Cr_2O_4的低温X射线衍射研究
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
(他6名)
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Xue;H. Kaneko;(他6名)
